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外観検査、膜厚計測、チルト計測、反射率計測 | ||
・次世代ディスクに対応した計測装置です。 ・1台で表面の外観検査、膜厚測定、チルト計測、コ ードの品質検査、反射率計測が可能となります。 ・検査結果により良否判定を行ないます。 |
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総合検査装置本体 |
検査処理の内容 | ||||||||||||||
1.傷、ゴミの検出 2.膜圧の計測 3.チルトの計測 4.反射率の計測 5.良否判定 6.結果表示の保存 7.外部I/Oインターフェース搭載 8.(コードの品質検査) |
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基本仕様 | ||||||||||||||
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検査装置画面表示 | ||
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チルト計測装置 |
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