超高速分光器  DTSP-150
 色計測、薄膜計測 
  
裏面入射型ペルチェ冷却FFT-CCD使用
          
    
 
色計測例

     
分光器本体  装置構成図
分光器の原理
分光器とは、光を虹(波長ごとの光)に分けて波長ごとの光の強さを測定するものです。
薄膜などに光をあて、その反射光を分光することによって薄膜成分を計測します。
特徴
・読出し信号10electoronicsと微小な光に反応します。
・電子冷却FFT−CCDを使用しているため、ローノイズでコンパクトです。
・超高感度であるため、オンライン測定などの高速計測が可能です。
・色計測ソフトウェア、膜厚解析ソフトウェアを用意しています。
・分光ユニットを使用したハード、ソフト、機構部のトータルシステムに対応します。
インターフェースはUSBタイプ、E-therタイプ、SCSIタイプがあります。
・LED発光用外部出力端子が付いています。
                
型式 DIT-150VIS (E) DIT-150UV DIT-150NIR
測定波長域(nm)
光検出素子
受光素子チャンネル数
受光面素子サイズ
素子冷却温度(℃)
読出しノイズ
暗電流
AD分解能
光学配置
分光器F値
検出器露光時間
入射スリット幅(μm)
逆線分散(nm/Ch)
分解能(nm)
波長精度(nm)
検出器露光時間
入射方式
インターフェース
電源
形状

300-800
裏面入射型FFT-CCD  冷却タイプ
1024
24.576mm x 1.392mm
-5
10electrons
75electrons/scan(-5°20msec)
14bit(16bit)
Czemy-tuner Mount
4
20msec〜10sec
25
0.5
1.5
1.5
5msec〜10sec
光ライトガイドファイバ(1.5m)
USB or 100base
AC100-240V ±10% 50-60Hz
140W 240H 250D 350ケーブル含
250-500











0.25
0.8
±0.2




500-1000











0.5
1.5
±0.3




 
   
膜厚測定例
    
  応用例  
各種ディスク上の
膜厚の厚み管理
半導体用ウェハ上の
レジスト膜、SiO
光学レンズの
コーティング膜厚管理
                
各種フィルムの膜厚測定 ガラス基板上の配向膜、
ITO膜のインライン計測
LEDの色計測
           *インライン用多チャンネルシステムも構築実績あります。
            
                          
                         
インラインタイプ
装置構成写真(オフラインタイプ)