赤外線顕微鏡
　　
IR-1300
　　　
高解像度赤外線CMOSカメラとエンハンサソフトウェアにより各種シリコンデバイス
の界面検査を鮮明な画像で表示する赤外線透過顕微鏡システムです。
＊レンタル承ります。詳しくはお問い合わせ下さい。
　　　　　
ＩＲ-1300の特徴
New・赤外線カメラが30FPSになりました。
   ・英語版も追加されました。Emglish version is available．    
・フォーカスの合わせやすさが向上しました。
・ＸＹステージの合わせやすさが向上しました。
・130万画素カメラにより高精度な画像撮影が可能になりました。
・ＤＴエンハンサーソフトの追加機能により使いやすさが向上しました。
　　
　　　　　
リアルタイムエフェクトソフトウェア
コントラストの低い画像や、ノイズの多い画面をリアルタイムエフェクトソフト
により画像の処理をして、明るい鮮明な見やすい画像にします。
　　
搭載機能概略
〜1.画像取込〜
・8bitモノクロ/24bitカラー画像の取り込み
〜2.画像表示〜
・フルスクリーン表示　　・ズーム表示(倍率1〜5程度)
〜3.エフェクト処理〜
・輝度レンジのリアルタイムエフェクト　　・積算処理(ノイズ除去）
〜4.寸法計測〜
・スケール表示　・面積計算　・寸法計測
・貼り合わせウエハーのアライメントマークずれ計測
〜5.図形描画〜
・丸、四角、矢印、テキスト描画
〜6.ファイル管理〜
・ＢＭＰファイル保存/読み込み　・ONEクリックセーブ機能
・2種類の保存(元画像、追加画像)
　　　
　　　
寸法計測例　　　　　　　　　　　　　図形描画例　　　
　　　
　　
張り合わせウエハーのアライメントマーク位置ずれ計測例
　　
　　　　　　　　　装置構成ブロック図　　　　　　　　InGaAsカメラ（オプション）
　　
6インチステージ搭載例
       
8インチステージ搭載可能
対象材料
Ｓｉ、GaAs、　（材料の組合せ、厚み等の条件により見えない場合があります。）
　　
対応カメラ
赤外線ＣMOSカメラ130万画素（標準）
InGaAsカメラ（オプション）　　
　その他カメラにも対応可能です。(お問い合わせください)　　
用途
MEMS、WLCSP,SIP,CON等の各種デバイスの内部観察
フリップ実装におけるコンタクト界面の観察、欠陥検査
張り合わせシリコンウエハーの界面の観察、欠陥検査
張り合わせシリコンウエハーのアライメントマークのずれ計測
　　
基本仕様
・対物レンズ　5ｘ、10ｘ、20ｘ、50ｘ、(100ｘ：オプション）　
・カメラ　赤外線ＣMOSカメラ130万画素　　
・照明　透過、反射（ハロゲンランプ）　
・ノートパソコン　　・ＸＹステージ
・ソフトウェア　画像改善ソフトDTエンハンサー付き
オプション　
  オートフォーカスユニット
電動X,Yステージ　
2カメラ異焦点ユニット
自動計測ソフトウエア　
アライメント機能
VCSELの酸化部寸法計測
OK,NG判断機能 
    
       
注意事項
光学系は赤外線専用設計ではありませんが、取り込んだ画像をソフトウェア処理
することにより鮮明な観察画像を実現しています。詳細はお問い合わせ下さい。
　　
エフェクト処理後の画像例
→
生画像 リアルタイムエフェクト処理後の画面
IRカメラ画像（SXGA）標準 InGaAsカメラ画像（VGA）
オプション
　　　
サンプル倍率画像例
　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　
対物レンズ１０倍 　 対物レンズ２０倍 　　　　　　
　　　　　　 　
　　　　　 　 　　　　　
対物レンズ５０倍 対物レンズ１００倍
VCSEL例 VCSEL例
　　　　　
〜レンタルを行なっております（IR-1300）〜
レンタル品は130万画素カメラのみになります。
・サンプル撮影：弊社にサンプルをお送りいただき当社にて撮影いたします。(無料)
・技術サポート付サンプル画像撮影：弊社にお越しいただき、当社技術サポートを受けながら撮影します。(有料)
・お試し一週間レンタル：装置をお送りし一週間の間使用していただきます。(有料)
・ご評価1ヶ月レンタル：一週間では時間が足りない場合は1ヶ月単位のレンタルも可能です。(有料)
内容等のお問い合わせはこちらから
　　　　
　　　　
赤外線顕微鏡シリコンチップの裏面観察
　 　
　　
　　
   2カメラ異焦点光学系   250μｍ厚のシリコンウエハーの上面(上面のゴミ）と裏面（パターン）を同時撮影した画面例